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半导体电学特性解決方案
NEXTRON的压电驱动变温微探针系统解决方案是微电子器件电气特性和原位半导体故障分析的有力保障。可以提供多种配置的微型载体,以适应客户的应用要求和设备。易于使用的多功能压电驱动模块-让您的分辨率定位在微米级别。这些探针的自由度使操作者能够在实验期间容易地调节探针的取向。专为低电流测量而设计,纳米结构的电气特性可通过屏蔽电缆与第三方电源表单元(SMU)和信号分析仪进行,具有出色的信噪比。
日期:2022-10-31 阅读:(360)
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NEXTRON微探针系统助力半导体器件电迁移验证实验
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日期:2022-10-27 阅读:(343)
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NEXTRON公司提供高精度压力控制模块为您的真空压力实验提供无限可能
日期:2022-10-23 阅读:(305)
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日期:2022-10-23 阅读:(339)
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日期:2022-10-13 阅读:(323)
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