XRD微探针测试系统是一个紧凑设计并且可以在高温和高真空环境下使用的原位XRD测试载体，通过安装的可移动探针可以施加电压并读取电学信号，该系统可用于电场诱导的相变、铁电材料研究中的相变及离子电池分析等。

温度范围： RT-450℃/ RT- 750℃/ RT-1000℃

温度稳定性和精度：0.1°C

独立PID温控

变温方式：陶瓷加热

样品台尺寸：1/2inch

探针数量：4个

探针接口：标准同轴或三轴接口

X/Y轴移动行程：12mm，Z轴移动行程：2mm

衍射角度：2θ：0-160度 ψ：0-85度 φ：0-360度

重量：450g

极限真空度：10^-3mbar（机械泵）/ 10^-6mbar（分子泵）

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