XRD冷热台功能限制

　　首先，x射线衍射(XRD冷热台)是研究结晶材料和某些非晶材料微观结构的有效方法。它也是研究人员常用的材料表征方法之一。XRD冷热台应用广泛，除了一般的物相分析外，还可用于单晶分析、结构分析、微晶尺寸、宏微观应力等。注意XRD冷热台主要用于无机材料，较少用于有机物。

　　XRD冷热台也有尺寸限制。测量大的晶体结构比测量小的晶体结构更准确。只有微量存在的小结构通常不能通过XRD冷热台读数检测到，这可能会改变结果。样品制备需注意样品面积、表面清洁度和表面水平。例如:未断裂的金属块试样，在试验前，应尽量磨成平面，并进行简单的抛光，这样既可以去除金属表面的氧化膜，又可以消除表面应变层。然后用超声波清洗去除表面杂质，但要保证取样面积大于10mm*10mm。

　　薄膜样品的厚度应大于20nm，测试前应检查基底的取向。如表面很不平整，可根据实际情况用导电胶或橡皮泥固定试样，试样表面应尽量平整。

　　片状和圆柱形样品会出现严重的择优取向，导致衍射强度异常。在这种情况下，测试时应合理选择响应方向平面。

　　对于断口和裂纹的表面衍射分子，要求端口尽可能光滑，并提供断口中所含的元素。

　　粉末样品的制备要求和粉末样品的制备比块状样品的制备要求更高，任何一种粉末衍射技术都要求样品的粉末颗粒非常小，粒度在320目粒度(40um)的数量级，同时颗粒体积有足够多的目的，使样品按照粒度有足够多的目的。以满足条件获得正确的粉末衍射图数据。

　　预处理:研磨(球墨)和筛分:用砂浆(球磨机)研磨固体颗粒。一般将粉末连续研磨至<360目，手工无颗粒感，认为粒度符合要求。

　　XRD冷热台注意:

　　在研磨过程中，需要不断地筛出已精炼的颗粒。

　　对于不容易磨碎的软物质，可以用液氮或干冰使其变脆并磨碎。

　　有些样品需要一个成形文件来生产精细的金属芯片。产生的芯片需要退火，以消除由文件引起的晶格应力。

　　除样品制备外，影响检测结果的因素还有生产方法，常用的有涂片法和压缩法。