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当前位置:网站首页 >> 客户案例 >> XRD原位微探针系统表征基于氧化还原反应的结构和电阻变化


- XRD室:NEXTRON XRD原位微探针系统

- 样品: SrFe0.8Co0.2O2.5 on 001 SrTiO3

- 光束线:浦项加速器实验室3D光束线

- 测量:在依次供应N2(2.5小时)、O2(6小时)和N2(2.5小时)的情况下进行实时XRD和电阻测量。流速为20 sccm。

- 结果:SrFe0.8Co0.2O2.5薄膜的晶格常数依次转移到3.99埃(N2)、3.90埃(O2)和4.00埃(N2)。由于拓扑结构的转变,观察到了相关的电阻变化。